OTSUKA大塚 多通道光谱检测器 膜厚分析仪 这是一款多功能、多通道光谱检测器，覆盖紫外到近红外波段。光谱测量可在短短5毫秒内完成。标准光纤使其能够兼容各种测量系统，无需特定样品类型。除了显微光谱、光源发射和透射/反射测量外，配合合适的软件，它还可以用于物体颜色评估和薄膜厚度测量。

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