OTSUKA/日本大塚 标准版智能薄膜厚度计 OTSUKA 专为现场巡检、产线离线抽检、来料入库快速质检开发的便携式光学膜厚仪，采用白光分光干涉法，非接触无损测量，弥补台式膜厚仪无法移动检测的短板；分为标准版 SM-100S、专业版 SM-100P 两款

日本进口 OTSUKA/日本大塚 智能薄膜厚度计 OTSUKA 专为现场巡检、产线离线抽检、来料入库快速质检开发的便携式光学膜厚仪，采用白光分光干涉法，非接触无损测量，弥补台式膜厚仪无法移动检测的短板；分为标准版 SM-100S、专业版 SM-100P 两款

OTSUKA/日本大塚 Zeta电位和粒度测量仪 一台设备集成三项核心检测：Zeta 电位、纳米粒径、高分子分子量；新增多角度光散射、微流变、凝胶网络、固体平板表面电位、超微量测试等拓展功能，覆盖从稀薄到 40% 高浓度全区间样品，适配科研实验室、半导体、生物医药、新能源、涂料全行业研发与产线质控Otsuka Electronics Co., Ltd.

OTSUKA/日本大塚 Zeta电位、分子量测量 一台设备集成三项核心检测：Zeta 电位、纳米粒径、高分子分子量；新增多角度光散射、微流变、凝胶网络、固体平板表面电位、超微量测试等拓展功能，覆盖从稀薄到 40% 高浓度全区间样品，适配科研实验室、半导体、生物医药、新能源、涂料全行业研发与产线质控Otsuka Electronics Co., Ltd.

日本大塚OTSUKA 超快光谱干涉厚度计 大塚电子SF-3 系列超高速分光干涉式厚度计，即超快光谱干涉厚度计，是日本 OTSUKA 自研的在线非接触光学测厚设备，核心采用宽光谱白光干涉分光解析算法，主打产线高速实时厚度监控，兼顾超薄薄膜与厚基材双重测量需求，是半导体研磨、光学卷材、封装胶膜量产线 Inline 标配检测单元

OTSUKA日本大塚 超快光谱干涉厚度计 测厚仪 大塚电子SF-3 系列超高速分光干涉式厚度计，即超快光谱干涉厚度计，是日本 OTSUKA 自研的在线非接触光学测厚设备，核心采用宽光谱白光干涉分光解析算法，主打产线高速实时厚度监控，兼顾超薄薄膜与厚基材双重测量需求，是半导体研磨、光学卷材、封装胶膜量产线 Inline 标配检测单元

日本进口OTSUKA大塚 多通道光谱仪 这是一款多功能、多通道光谱检测器，覆盖紫外到近红外波段。光谱测量可在短短5毫秒内完成。标准光纤使其能够兼容各种测量系统，无需特定样品类型。除了显微光谱、光源发射和透射/反射测量外，配合合适的软件，它还可以用于物体颜色评估和薄膜厚度测量。

原装正品 OTSUKA大塚 多通道光谱仪 这是一款多功能、多通道光谱检测器，覆盖紫外到近红外波段。光谱测量可在短短5毫秒内完成。标准光纤使其能够兼容各种测量系统，无需特定样品类型。除了显微光谱、光源发射和透射/反射测量外，配合合适的软件，它还可以用于物体颜色评估和薄膜厚度测量。

OTSUKA大塚 多通道光谱检测器 膜厚分析仪 这是一款多功能、多通道光谱检测器，覆盖紫外到近红外波段。光谱测量可在短短5毫秒内完成。标准光纤使其能够兼容各种测量系统，无需特定样品类型。除了显微光谱、光源发射和透射/反射测量外，配合合适的软件，它还可以用于物体颜色评估和薄膜厚度测量。

OTSUKA大塚 多通道光谱检测器 代理商供应 宽动态范围、高速度、高重现性、轻巧紧凑——MCPD系列光谱仪的升级版！MCPD-9800，MCPD系列 顶级多通道光谱仪。