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OTSUKA/日本大塚 Zeta电位、分子量测量
  • 产品型号:ELSZneo
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-06-26
  • 访  问  量:133
简要描述:

OTSUKA/日本大塚 Zeta电位、分子量测量 一台设备集成三项核心检测:Zeta 电位、纳米粒径、高分子分子量;新增多角度光散射、微流变、凝胶网络、固体平板表面电位、超微量测试等拓展功能,覆盖从稀薄到 40% 高浓度全区间样品,适配科研实验室、半导体、生物医药、新能源、涂料全行业研发与产线质控Otsuka Electronics Co., Ltd.

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产品详情

OTSUKA/日本大塚 Zeta电位、分子量测量
OTSUKA/日本大塚 Zeta电位、分子量测量

一、产品定位

ELSZneo 是大塚 ELSZ 系列旗舰顶配机型,一台设备集成三项核心检测:Zeta 电位、纳米粒径、高分子分子量;新增多角度光散射、微流变、凝胶网络、固体平板表面电位、超微量测试等拓展功能,覆盖从稀薄到 40% 高浓度全区间样品,适配科研实验室、半导体、生物医药、新能源、涂料全行业研发与产线质控.。

二、核心测量原理

  1. 粒径:动态光散射 DLS,多角度检测提升粒径分布分辨力

  2. Zeta 电位:电泳光散射(外差光学),可测液体颗粒 + 固体平板表面电荷

  3. 分子量:静态光散射 SLS(零差光路),计算重均分子量

  4. 拓展功能:静态光散射测颗粒浓度、DLS 微流变、凝胶散射强度分析

核心优势

1. 超高浓度兼容,无需稀释

普通设备仅支持≤10% 低浓度样品,ELSZneo 最高可直接测 40% 高浓浆料、高浊乳液,避免稀释破坏原始分散状态,半导体 CMP 研磨浆料、高固色浆直接上机。

2. 高盐体系固体表面 Zeta 电位池

自研耐盐涂层平板样品池,可在生理盐水、高离子缓冲液环境测试晶圆、薄膜、平板材料表面电荷;适配生物样品、半导体晶圆键合等离子活化品质判定。

3. 3 μL 超微量粒径测试池

仅需 3 微升样品即可完成粒径检测,适配微量生物制剂、昂贵纳米药物、单细胞微胶囊等稀缺样品,大幅降低耗材消耗。

4. 多参数一体化,拓展功能丰富

除三项基础检测外,额外支持:
  • 多角度粒径分布解析,区分多分散混合颗粒

  • 颗粒浓度定量分析

  • 微流变测试,表征胶体凝胶粘弹性

  • 凝胶网络不均一性散射分析

5. 宽温梯度程序控温

0~90℃连续升降温自动测试,可分析蛋白变性、温致团聚、高分子相变、乳液热稳定性。

OTSUKA/日本大塚 Zeta电位、分子量测量

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