OTSUKA日本大塚 超快光谱干涉厚度计 测厚仪 大塚电子SF-3 系列超高速分光干涉式厚度计，即超快光谱干涉厚度计，是日本 OTSUKA 自研的在线非接触光学测厚设备，核心采用宽光谱白光干涉分光解析算法，主打产线高速实时厚度监控，兼顾超薄薄膜与厚基材双重测量需求，是半导体研磨、光学卷材、封装胶膜量产线 Inline 标配检测单元

留言框

• 产品：

• 您的单位：

• 您的姓名：

• 联系电话：

• 常用邮箱：

• 省份：

  请选择您所在的省份 安徽 北京 福建 甘肃 广东 广西 贵州 海南 河北 河南 黑龙江 湖北 湖南 吉林 江苏 江西 辽宁 内蒙古 宁夏 青海 山东 山西 陕西 上海 四川 天津 新疆 西藏 云南 浙江 重庆 香港 澳门 中国台湾 国外

• 详细地址：

• 补充说明：

• 验证码：

  

  请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：三加四=7