日本进口 OTSUKA/日本大塚 智能薄膜厚度计 OTSUKA 专为现场巡检、产线离线抽检、来料入库快速质检开发的便携式光学膜厚仪，采用白光分光干涉法，非接触无损测量，弥补台式膜厚仪无法移动检测的短板；分为标准版 SM-100S、专业版 SM-100P 两款

高精度便携式薄膜测厚仪。您在测量薄膜厚度时是否遇到过以下问题 ：
“ “测量结果因人而异"或 “测量精度差" ？智能薄膜测厚仪具备以下特点，可解决您的这些问题。

• • 便于携带至生产现场的字体

• 它很简单，任何人都可以使用。

• 即使使用手持设备，也可以进行高精度测量。

• • 即使对于形状固定的样品，也可以进行无损测量。
  
  

• 特征

• “便携式"——重量仅1.1公斤，方便携带。

• “高精度测量 & 简易测量"：无需校准曲线即可测量至 0.1 μm。

• “支持多层薄膜"：可测量最多 3 层的多层薄膜。

• “非破坏性、非接触式测量"：测量不会对样品造成损坏。

• “可测量各种样品"：无论基材（玻璃、塑料等）如何，均可进行测量。
  
  

• 五大核心优势

• 便携，现场随时随地检测整机仅 1.1kg，无需外接气源、水冷、固定台架，车间产线、仓库来料、外协件现场均可携带巡检；测头 270° 旋转，曲面、深孔、异形镜片、晶圆边缘狭小区域均可对准测量。
• 无损非接触，高价值样品零损伤光学无接触式检测，不会划伤光刻胶、光学镀膜、柔性薄膜、晶圆氧化层，适配昂贵精密样品抽检，无耗材损耗。
• 操作零门槛，新人快速上手触摸屏可视化操作，内置百余种常用膜层折射率（光刻胶、SiO₂、AR 镀膜、硬化层、OCA、ITO 等），选中材料对准样品一键出厚度，无需专业人员调试曲线。
• 专业版支持多层膜分层解析SM-100P 可自动拆分三层不同材质膜层，分别输出每层厚度，适配偏光片、复合光学膜、多层封装胶等复合涂层制程管控。
• 完整数据追溯，适配工厂品质体系自动记录编号、厚度、时间，U 盘导出 CSV 检测报表，可对接工厂 MES 品质系统，满足第三方审核、ISO 质量管控数据溯源要求。