ESPEC高压加速老化试验箱 爱斯佩克厂家供货 ESPEC 爱斯佩克 EHS-212 高压加速老化试验箱（HAST），内腔容积 21L，温度 105~142.9℃，湿度 75~100% RH，压力 0.020~0.196MPa (G)。支持不饱和、饱和加湿控制，用于半导体封装芯片、

ESPEC高压加速老化试验箱 爱斯佩克厂家供货
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ESPEC 爱斯佩克 EHS-212 属于 EHS 系列 HAST 高压加速老化试验箱，也常被称为高压蒸煮试验箱，是半导体行业用于封装器件加速湿热可靠性验证的核心设备。通过高温高压高湿环境，大幅缩短元器件湿气失效验证周期，替代长时间常规湿热老化测试。

腔体容积 21L，内腔 φ294×318mm；工作温度区间 105.0~142.9℃，湿度 75~100% RH，压力 0.020~0.196MPa 表压。支持不饱和、饱和加湿、干湿球多种控制模式，温度波动 ±0.3℃，湿度波动 ±2.5% RH，试验条件稳定，测试数据重复性好。

设备自带供水、排水组件，无需复杂外接管路；配备完C善安全机制，包含超温保护、超压保护、加压状态舱门互锁，压力未释放时舱门无法开启，保障操作人员安全。可选配样品通电接口，可在试验过程中对器件施加偏压，开展偏压 HAST 测试。

广泛用于半导体 IC、芯片、二极管、三极管、PCB 封装器件，评估封装气密性、抗湿气渗透能力，是芯片封装可靠性、车载电子元器件研发与质检必C备设备，满足 JEDEC、IEC、国标等行业测试规范。

设备概览