小型温度冲击试验机 ESPEC爱斯佩克 ESPEC 爱斯佩克 TSE-12-A 吊篮升降式冷热冲击试验箱，二温区提篮移动结构，试验区容积 11L，内腔 320×148×230mm。高温暴露 + 60~+200℃，低温暴露 - 65~0℃，依靠吊篮升降切换高低温区，温度恢复时间≤5min，无需液氮。

ESPEC爱斯佩克空气式冷热冲击箱 代理商供应 ESPEC 爱斯佩克 TSA-73ES 风门切换式冷热冲击试验箱，ES 低温强化版本，试验区容积 70L，内腔 410×460×370mm。高温暴露 + 60~+200℃，低温可达 - 70℃，风门快速切换冷热气流，样品静止不动，便于试验持续通电监测。

原厂供应 ESPEC爱斯佩克 温度冲击试验机 ESPEC 爱斯佩克 TSA-203EL 风门切换式冷热冲击试验箱，二温区固定样品结构，试验区容积 200L，内腔 650×460×670mm。高温暴露区间环境 + 50~+200℃，低温暴露 - 65~0℃，风门快速切换冷热气流，样品静止不动，便于试验过程持续通电监测。

爱斯佩克ESPEC 风门切换冷热冲击试验箱 ESPEC 爱斯佩克 TSA-73EL 风门切换式冷热冲击试验箱，二温区固定样品结构，试验区容积 70L，内腔 410×460×370mm。高温暴露：环境 + 50~+200℃，低温暴露：-65~0℃，风门快速切换冷热气流，样品静止不动，便于样品持续通电监测。

原厂进口 ESPEC 二箱式冷热冲击试验箱 ESPEC 爱斯佩克 TSA-43EL 风门切换式冷热冲击试验箱，二温区固定样品结构，试验区容积 40L，内腔 240×460×370mm。高温暴露：环境 + 50~+200℃，低温暴露：-65~0℃，采用风门快速切换冷热气流，样品保持静止，方便样品持续接线通电测试。

品牌代理商 ESPEC HAST试验箱 原装* ESPEC 爱斯佩克 EHS-412 高压加速老化试验箱（HAST），单腔 21L，温度 105~162.2℃，湿度 75~100% RH，最高压力可达 0.392MPa (G)，相比 EHS-212 拥有更高温高压能力。支持不饱和、饱和加湿控制，满足 JESD22、IEC60068、GB/T2423.40 标准

ESPEC爱斯佩克 高压加速老化 HAST 试验箱 ESPEC 爱斯佩克 EHS-412 高压加速老化试验箱（HAST），单腔 21L，温度 105~162.2℃，湿度 75~100% RH，最高压力可达 0.392MPa (G)，相比 EHS-212 拥有更高温高压能力。支持不饱和、饱和加湿控制，满足 JESD22、IEC60068、GB/T2423.40 标准

ESPEC爱斯佩克 高压蒸煮可靠性试验箱 原厂 ESPEC 爱斯佩克 EHS-222 高压加速老化试验箱（HAST），单腔大容量机型，内腔容积 51L，温度 105~142.9℃，湿度 75~100% RH，压力 0.020~0.196MPa (G)。支持不饱和、饱和加湿控制，相比 EHS-212 腔体更大，可放置更大尺寸样品或更多试样

ESPEC 双腔HAST高压加速老化箱 玉科代理商 ESPEC 爱斯佩克 EHS-212MD 双腔 HAST 高压加速老化试验箱，一机内置 2 个独立腔体，单腔容积 21L，温度 105~142.9℃，湿度 75~100% RH，压力 0.020~0.196MPa (G)。两腔可独立设置试验程序，并行开展不同样品 HAST 测试

ESPEC高压加速老化试验箱 爱斯佩克厂家供货 ESPEC 爱斯佩克 EHS-212 高压加速老化试验箱（HAST），内腔容积 21L，温度 105~142.9℃，湿度 75~100% RH，压力 0.020~0.196MPa (G)。支持不饱和、饱和加湿控制，用于半导体封装芯片、