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ESPEC爱斯佩克 高压加速老化 HAST 试验箱
ESPEC爱斯佩克 高压加速老化 HAST 试验箱
ESPEC 爱斯佩克 EHS-412 属于 EHS 系列高规格 HAST 高压加速老化试验箱,腔体容积 21L,腔体尺寸与 EHS-212 一致,但最高温度与压力上限大幅提升,最高温度 162.2℃,最大压力 0.392MPa (G),用于更高应力等级的半导体器件加速湿热可靠性验证。
支持不饱和加湿、饱和加湿两种控制模式,温度波动 ±0.3℃,湿度波动 ±2.5% RH,试验环境稳定,测试数据重复性优异。设备自带一体化供水排水组件,安装部署简单,无需复杂外接管路。安全防护体系完C善,配备超温保护、超压保护,加压状态舱门机械互锁,压力未完C全释放舱门无法开启,保障操作人员安全。M 版本可增配样品偏压接线端子,支持偏压 HAST 测试,模拟器件通电工况下的湿气失效验证。
适用于功率半导体、车载芯片、高可靠 IC 封装器件,执行严苛等级 HAST 高压蒸煮加速寿命测试,快速评估封装抗湿气渗透能力,满足 JEDEC、IEC、国标可靠性测试规范。适合需要更高温高压应力条件的研发与质检实验室。
高加速应力试验箱主要用于进行施加恒定电压和信号的偏置测试。标准设备具有两种控制模式:[非饱和控制]和[湿饱和控制],而M型试验箱还额外提供[干湿球温度控制]模式。M
型试验箱符合IEC60068-2-66标准。
| 模型 | 温度、湿度和压力范围 | 内径/外径 尺寸(毫米) |
|---|---|---|
| EHS-212 | +105.0 至 +142.9℃ / 75 至 100%rh / 0.020 至 0.196MPa(表压) | φ294 ×D318 / W640×H1483×D850 |
| EHS-212M | ||
| EHS-212MD | φ294 ×D318×2 / W760×H1796×D1000 | |
| EHS-222 | φ394 ×D426 / W740×H1553×D1000 | |
| EHS-222M | ||
| EHS-222MD | φ394 ×D426×2 / W860×H1796×D1000 | |
| EHS-412 | +105.0 至 +162.2℃ / 75 至 100%rh / 0.020 至 0.392MPa(表压) | φ294 ×D318 / W640×H1483×D850 |
| EHS-412M | ||
| EHS-412MD | φ294 ×D318×2 / W760×H1796×D1000 |

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