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ESPEC爱斯佩克 高压蒸煮可靠性试验箱 原厂
ESPEC爱斯佩克 高压蒸煮可靠性试验箱 原厂
ESPEC 爱斯佩克 EHS-222 属于 EHS 系列大容量单腔 HAST 高压加速老化试验箱,是 EHS-212 的升级加大腔体版本,用于半导体封装器件加速湿热可靠性验证,通过高温高压高湿环境快速评估封装抗湿气渗透能力,大幅缩短可靠性验证周期。
内腔容积 51L,内腔 φ394×426mm,可容纳更大尺寸 PCB、多组样品批量测试;工作温度区间 105.0~142.9℃,湿度 75~100% RH,压力 0.020~0.196MPa 表压。支持不饱和加湿、饱和加湿控制,温度波动 ±0.3℃,湿度波动 ±2.5% RH,试验条件稳定,测试数据重复性好。
设备自带一体化供水、排水组件,安装简单;配备完C善安全防护,超温保护、超压保护,加压状态舱门机械互锁,压力未释放舱门无法开启,保障操作人员安全。可选择 M 版本,内置 5 组 12pin 样品接线端子,支持偏压 HAST 测试,试验过程中给器件施加偏压,模拟真实通电工况。
高加速应力试验箱主要用于进行施加恒定电压和信号的偏置测试。标准设备具有两种控制模式:[非饱和控制]和[湿饱和控制],而M型试验箱还额外提供[干湿球温度控制]模式。M
型试验箱符合IEC60068-2-66标准。
| 模型 | 温度、湿度和压力范围 | 内径/外径 尺寸(毫米) |
|---|---|---|
| EHS-212 | +105.0 至 +142.9℃ / 75 至 100%rh / 0.020 至 0.196MPa(表压) | φ294 ×D318 / W640×H1483×D850 |
| EHS-212M | ||
| EHS-212MD | φ294 ×D318×2 / W760×H1796×D1000 | |
| EHS-222 | φ394 ×D426 / W740×H1553×D1000 | |
| EHS-222M | ||
| EHS-222MD | φ394 ×D426×2 / W860×H1796×D1000 | |
| EHS-412 | +105.0 至 +162.2℃ / 75 至 100%rh / 0.020 至 0.392MPa(表压) | φ294 ×D318 / W640×H1483×D850 |
| EHS-412M | ||
| EHS-412MD | φ294 ×D318×2 / W760×H1796×D1000 |

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