小型温度冲击试验机 ESPEC爱斯佩克 ESPEC 爱斯佩克 TSE-12-A 吊篮升降式冷热冲击试验箱，二温区提篮移动结构，试验区容积 11L，内腔 320×148×230mm。高温暴露 + 60~+200℃，低温暴露 - 65~0℃，依靠吊篮升降切换高低温区，温度恢复时间≤5min，无需液氮。

小型温度冲击试验机 ESPEC爱斯佩克 
小型温度冲击试验机 ESPEC爱斯佩克 

ESPEC 爱斯佩克 TSA-73ES 属于 TSA 系列风门切换式冷热冲击试验箱，腔体尺寸与 TSA-73EL 一致，但ES 为低温强化版本，最C低温度可达 - 70℃，采用样品静止、风门切换冷热气流的二温区结构，试样全程固定，无吊篮升降带来的机械震动，适合长时间通电监测元器件可靠性测试。

试验区容积 70L，内腔尺寸 410×460×370mm，可一次性放置多组试样；高温暴露区间 + 60~+200℃，低温最C低 - 70℃，温度波动 ±0.5℃。依靠风门快速切换冷热气流，短时间完成高低温冲击转换，可实现比 EL 型号更严苛的低温冲击应力，模拟产品在严寒环境下的温度骤变工况，快速暴露焊点、封装、基材内部潜在缺陷。

腔体侧面配有引线孔，样品接线布设简单，长线不受移动限制；搭载节能演算控制系统，自动优化预热预冷时长，降低长期循环测试能耗；冷冻机组强化设计，低温段控制更稳定。可选配无霜运行组件，支持上千小时不间断连续试验，也可增配样品温度控制模块，精准管控试样本体温度。

广泛用于半导体芯片、功率器件、IC 器件、PCB 电路板、连接器、车载电子零部件，开展高等级温度冲击、环境应力筛选试验，验证封装、焊点抵抗剧烈温度骤变的能力，满足 JEDEC、MIL、IEC 等国际可靠性测试规范，适合需要更低冲击温度的研发质检实验室。