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更新时间:2026-06-25
浏览次数:127MCPD系列是日本大塚电子株式会社(OTSUKA ELECTRONICS)推出的瞬间多通道分光器旗舰产品线,是从紫外到近红外领域对应的多功能多通道分光检测器。该系列以瞬间多通道测光技术为核心,可在极短时间内完成全波段光谱的同步采集。
MCPD系列拥有两个系列、共达9个波长范围的检测器型号,可根据客户需求与测量用途选择适合的检测器。核心型号包括:
| 型号 | 定位 |
|---|---|
| MCPD-9800 | 旗舰级,高档次机型 |
| MCPD-7700 | 高感度分光 |
| MCPD-6800 | 紫外/可见/近红外光分光光谱仪 |
MCPD系列膜厚测量的核心原理为分光干涉方式——利用光学干涉现象,通过分析薄膜表面与界面反射光的光谱干涉图样,精确计算薄膜厚度。这一原理具有以下核心优势:
非接触·非破坏性测量:无需接触样品,不损伤薄膜表面
高测量再现性:采用大塚电子独自算法,可实现高速实时监控
多层厚度测量支持:可同时测量多层薄膜结构
不易受基膜上下移动影响:测量精度高,适合在线生产环境
1. 宽动态范围与低杂散光
MCPD-9800作为旗舰机型,实现了宽动态范围和低杂散光功能,适于高精度紫外定量评估、量子效率测量、在线测量为首的所有高精度测光系统。
2. 高速·高感度测量
利用512ch或1024ch检测单元与检测器内部存储器,MCPD-9800机型可实现最短5毫秒(5ms) 的光谱测量。嵌入式膜厚测试型更可达到最短1ms的曝光时间。
3. 柔性光纤系统,灵活嵌入
采用柔性纤维光学系统,可轻松组装到半导体工艺装置中。标准配置的光纤不受样品形状和大小约束,可搭建更自由的光学系统。
4. 通信接口支持USB和LAN
具备通用USB端口及满足远程遥控测量的LAN通信功能,支持远程测量。
MCPD-9800为瞬间多通道分光器MCPD系列的高级机型,与旧机型相比实现了宽动态范围、低杂散光、更高速、更高再现性。
| 检测器型号 | 测量波长范围 | 膜厚测量范围(n=1.5换算) | 扫描时间 |
|---|---|---|---|
| 2285C | 220~850 nm | 65nm~35μm | 5ms~20s |
| 3095C | 300~950 nm | 65nm~50μm | 5ms~20s |
| 3683C | 360~830 nm | 65nm~45μm | 5ms~20s |
| 311C | 360~1100 nm | 65nm~49μm | 5ms~20s |
| 916C | 900~1600 nm | 180nm~92μm | 5ms~20s |
数据来源
MCPD-9800支持膜厚/反射/透过/相位差测量,部分型号还支持色测量功能。光斑直径为φ1.2mm。
| 检测器型号 | 测量波长范围 | 膜厚测量范围(n=1.5换算) | 扫描时间 |
|---|---|---|---|
| 2285C | 220~850 nm | 65nm~35μm | 16ms~65s |
| 3095C | 300~950 nm | 65nm~50μm | 16ms~65s |
| 3683C | 360~830 nm | 65nm~45μm | 16ms~65s |
| 3610C | 360~1000 nm | 65nm~49μm | 16ms~65s |
数据来源
MCPD-6800支持膜厚/反射/透过/相位差/色测量全功能。
MCPD系列可测量的膜材料类型极为广泛:
树脂膜:PET、PP、PE、PC、Nylon等各类高分子薄膜
功能性薄膜:光学薄膜、包装膜、机能性薄膜
涂布膜:Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂
半导体晶圆膜:氧化膜、氮化膜、光阻膜
其他:光碟片膜层、薄膜磁头、感光鼓膜厚度
MCPD系列支持在线测量,可集成到生产线进行实时质量监控:
卷对卷(Roll to Roll)高速在线膜厚监控:实际案例中,MCPD-9800已在150m/min和200m/min的极限速度下稳定运行
嵌入式膜厚测试:适用于CMP工艺、蚀刻工艺、成膜工艺等过程中的膜厚终点检测
多点测量:支持TD方向多点膜厚分布测量
通过与软件组合,MCPD系列可对应物体颜色评价、膜厚测定、反射/透过/吸收光谱测量等多种评估项目:
反射特性测量
吸收测量
显微分光测量
发光/荧光测量
MCPD系列广泛应用于功能性薄膜的品质管理,如HC(硬涂层)、AR(减反射膜)、ITO(透明导电膜)、燃料电池、锂电池等功能薄膜的质量控制。
玉崎科学仪器(深圳)有限公司为京都玉崎集团旗下专注科学仪器的子公司,已正式成为日本OTSUKA大塚电子在中国市场的授权代理商。
全系列产品代理:负责大塚电子全系列光学测量仪器在中国区的销售、技术支持与售后服务
服务网络:依托京都玉崎在深圳、苏州、北京、成都等地的分支机构,提供本地化服务
选型支持:凭借MCPD系列共9个波长范围的检测器阵容,为客户推荐适合需求和测量应用的检测器
定制化系统:丰富的附属配件、选配单元和分析软件,可根据客户需求提供定制化“优系统"
MCPD系列满足日本工业标准JIS Z 8724(颜色测量方法——光源色) 对分光测光器的全部精度要求:
波长准确性:偏差在±0.3nm以下
测光线性(强度比2:1):直线偏移在±0.5%以内,再现性0.2%以内
测光线性(强度比10:1):直线偏移在±1%以内,再现性0.5%以内
杂散光:450nm/500nm/650nm处1.0%以下
大塚电子的光计测实验室已获得JCSS(日本校正事业者协会)认证,可提供符合国际MRA(相互承认协议)的光学可追溯校准服务。

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