微米级缺陷识别，TORAY东丽 PT25-6-20 高频超声探头全新推出

近期，玉崎科学仪器（深圳）有限公司全新推出日本 TORAY 东丽 PT25-6-20 聚焦式高频超声探头，专为 SAM 超声扫描显微镜、SAT 超声成像系统配套使用，实现微米级内部缺陷无损识别，是半导体封装、新材料实验室精密探伤的核心传感配件，现已开放技术咨询与采购订货。

PT25-6-20 中心频率 25MHz，晶片直径 6mm，标准焦距 20mm，采用东丽自研 P (VDF-TrFE) 共聚压电薄膜，一体式自聚焦结构，无外置声学透镜，消除透镜带来的杂波与多重反射干扰，回波波形干净、信噪比优异。压电薄膜声阻抗与水耦合介质高度匹配，超声波传输损耗低，可稳定捕捉薄层界面微小信号，精准检出微米级空洞、分层、脱粘、微裂纹等内部缺陷，兼顾高分辨率与合适穿透能力，适配近表层精密检测场景化工仪器网。

探头外壳采用不锈钢密封结构，防护可靠，工作温度区间 - 20℃~60℃；提供 MicroDot、UHF 两种标准接口可选，可直接兼容市面主流超声扫描显微镜主机，更换便捷。出厂完成全套声学校准，探头之间声学一致性好，方便实验室多工位轮换使用，降低设备标定成本。

典型应用场景：半导体功率器件封装检测、PCB 多层基板、芯片键合层空洞与分层检测；复合材料、涂层界面粘接质量评估；材料科研实验室内部微观缺陷成像、精密零部件无损探伤，广泛用于电子制造、新材料研发、高校材料物性实验室等领域。

玉崎科学仪器（深圳）有限公司作为日系精密检测仪器专业代理商，采购 TORAY 东丽 PT25-6-20 高频超声探头可享多重采购优势。依托原厂稳定供货渠道，省去多层中间商，给到客户具备竞争力的采购价格；可提供探头选型对比、配套 SAM 设备适配评估、原厂技术资料、参数确认、配件配套一站式服务。针对半导体企业、科研院校批量采购，可提供专项项目报价，欢迎咨询。