适配超声扫描显微镜，TORAY 东丽 PT100-2-6 探头全新推出

近期，玉崎科学仪器（深圳）有限公司正式推出日本 TORAY 东丽 PT100-2-6 聚焦式高频超声探头，专为 SAM 超声扫描显微镜（SAT 声学扫描显微镜）配套使用，超高频率实现超薄试样界面微米级缺陷成像，是半导体封装、薄层材料微观无损检测的核心传感配件，现已开放技术咨询与采购订货。

PT100-2-6 中心频率 100MHz，晶片直径 2mm，标称焦距 6mm，搭载东丽自研 P (VDF-TrFE) 共聚压电薄膜，一体式自聚焦结构，无需外置声学透镜，消除透镜带来的多重反射杂波干扰，回波信号干净，信噪比优异。压电薄膜声阻抗与水耦合介质高度匹配，超声波传输损耗低，纵向分辨率突出，可精准检出超薄封装层微空洞、界面脱粘、微小分层、微裂纹等细微缺陷，适合极近表层、薄试样的高精度无损成像。

探头采用不锈钢密封外壳，结构紧凑小巧，适配狭小空间水浸检测工况；工作温度区间 - 20℃~60℃，支持 MicroDot、UHF 两种标准接口，可直接对接市面主流 SAM 超声扫描显微镜主机，探头更换简单快捷。出厂完成全套声学校准，探头声学一致性稳定，方便实验室多工位轮换使用，降低设备标定成本。

典型应用场景：半导体芯片、CSP、QFN、功率器件、超薄晶圆封装缺陷检测；薄膜、涂层、多层复合材料界面粘接质量评估；材料科研实验室薄层微观缺陷成像，广泛用于半导体制造、新材料研发、高校材料实验室等领域。

玉崎科学仪器（深圳）有限公司作为日系精密检测仪器专业代理商，采购 TORAY 东丽 PT100-2-6 高频超声探头可享多重采购优势。依托原厂稳定供货渠道，省去多层中间商，给到客户具备竞争力的采购价格；可提供探头选型对比、SAM 设备适配评估、原厂技术资料、参数确认、配件配套一站式服务。针对半导体企业、科研院校批量采购，可提供专项项目报价，欢迎咨询。